第3回教育研究支援センター研修会
「走査型電子顕微鏡の操作,X線マイクロアナライザーによる定性定量分析法」


 第3回教育研究支援センター研修会「走査型電子顕微鏡の操作,X線マイクロアナライザーによる定性定量分析法」
を西彰矩技術専門職員により、平成15年9月24日(水)から9月26日(金)まで3日間の期日でSCS室,電子顕微鏡室室を使って開催した。
24日はSCS室で操作概要について講演を聴き、その後,電顕室で操作法を研修した。

                            

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福田教育研究支援センター長より挨拶

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講習会風景

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西技術専門職員による講習会風景

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電子顕微鏡操作中風景


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