第3回教育研究支援センター研修会「走査型電子顕微鏡の操作,X線マイクロアナライザーによる定性定量分析法」
第3回教育研究支援センター研修会「走査型電子顕微鏡の操作,X線マイクロアナライザーによる定性定量分析法」を西彰矩技術専門職員により、平成15年9月24日(水)から9月26日(金)まで3日間の期日でSCS室,電子顕微鏡室室を使って開催した。 24日はSCS室で操作概要について講演を聴き、その後,電顕室で操作法を研修した。
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